HAST試驗(yàn)箱半導(dǎo)體集成電路高應(yīng)力可靠性測(cè)試

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

本HAST（高加速應(yīng)力測(cè)試）試驗(yàn)箱是專為半導(dǎo)體集成電路、封裝、功率器件等電子元器件設(shè)計(jì)的可靠性測(cè)試設(shè)備。它通過(guò)精確控制高溫、高濕、高壓的非飽和蒸汽環(huán)境，在實(shí)驗(yàn)室條件下極速模擬并加速長(zhǎng)期使用中可能出現(xiàn)的潮濕失效、腐蝕、離子遷移等故障，將長(zhǎng)達(dá)數(shù)年的自然老化過(guò)程縮短至數(shù)百小時(shí)內(nèi)，是產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量認(rèn)證與失效分析的核心工具。

產(chǎn)品核心亮點(diǎn)

精準(zhǔn)的控制能力：采用非飽和蒸汽控制技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)溫度、濕度、壓力的高精度獨(dú)立控制與實(shí)時(shí)監(jiān)控，確保測(cè)試條件嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，測(cè)試結(jié)果具備很高的復(fù)現(xiàn)性與可比性。

高應(yīng)力加速測(cè)試效率：在遠(yuǎn)高于常規(guī)恒溫恒濕試驗(yàn)（如85℃/85% RH）的應(yīng)力條件下運(yùn)行，能快速激發(fā)潛在缺陷，顯著縮短產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證周期，助力企業(yè)搶占市場(chǎng)先機(jī)。

安全與可靠性設(shè)計(jì)：配備多重安全防護(hù)（超壓、超溫、漏電、缺水等自動(dòng)保護(hù)），關(guān)鍵部件采用耐腐蝕材料與強(qiáng)化結(jié)構(gòu)，確保設(shè)備在長(zhǎng)期高應(yīng)力測(cè)試下的穩(wěn)定運(yùn)行與操作安全。

廣泛的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)兼容性：設(shè)備設(shè)計(jì)嚴(yán)格遵循半導(dǎo)體行業(yè)主流可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，確保測(cè)試數(shù)據(jù)在國(guó)際供應(yīng)鏈及客戶群中獲得廣泛認(rèn)可與信任。

靈活的多模式測(cè)試：支持非飽和（常用）、飽和及干濕球等多種控制模式，一機(jī)多用，可滿足從標(biāo)準(zhǔn)HAST到無(wú)偏壓HAST（UHAST）乃至高壓蒸煮（PCT）等不同測(cè)試協(xié)議的需求。

詳細(xì)技術(shù)參數(shù)

HAST試驗(yàn)箱半導(dǎo)體集成電路高應(yīng)力可靠性測(cè)試

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