控制HAST高壓試驗箱 非飽和高濕老化是半導(dǎo)體、汽車電子、航空航天及消費電子等領(lǐng)域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件(如IC芯片、PCB、連接器)和材料在惡劣環(huán)境下的潛在缺陷,如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等,從而為產(chǎn)品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
| 型號:HT-HAST-800 | 瀏覽量:218 |
| 更新時間:2026-01-05 | 是否能訂做:是 |
控制HAST高壓試驗箱 非飽和高濕老化的生產(chǎn)廠家,東莞市皓天試驗設(shè)備有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。
產(chǎn)品概述
HT-HAST-800 高壓加速壽命試驗箱(HAST)是一款專為電子元器件、半導(dǎo)體集成電路、光伏模塊及材料等產(chǎn)品進(jìn)行高加速、高應(yīng)力可靠性測試而設(shè)計的專業(yè)設(shè)備。其采用非飽和蒸汽加壓技術(shù),可在高溫、高濕、高壓環(huán)境下,大幅縮短產(chǎn)品壽命評估周期,是進(jìn)行可靠性篩選、失效分析及質(zhì)量驗證的關(guān)鍵工具。設(shè)備遵循嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓に嚇?biāo)準(zhǔn),確保測試數(shù)據(jù)在地球范圍內(nèi)的廣泛認(rèn)可。
核心技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:+105℃ ~ +155℃(可選)
常用測試溫度:110℃, 130℃, 145℃
濕度范圍:50% ~ 95% RH(非飽和,可調(diào))
*部分型號支持65%-100%RH,可設(shè)定飽和模式*
壓力范圍:0.02 MPa ~ 0.6 MPa(表壓)
*約合0.2至6kg/cm2,滿足不同標(biāo)準(zhǔn)要求*
控制精度:溫度: ±0.5℃; 濕度: ±2.5% ~ ±3% RH
確保測試條件的嚴(yán)苛穩(wěn)定性和出色復(fù)現(xiàn)性
控制模式:支持干濕球控制、非飽和蒸汽、飽和蒸汽三種工作模式,適應(yīng)多樣化的測試方案需求。
遵循的核心標(biāo)準(zhǔn)
我們的設(shè)備設(shè)計與制造嚴(yán)格遵循國際及國內(nèi)主流可靠性測試標(biāo)準(zhǔn),確保您的測試數(shù)據(jù)在地球范圍內(nèi)獲得廣泛認(rèn)可:
國際電工委員會 (IEC):
IEC 60068-2-66 (試驗Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)
IEC 60749 (半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法)
固態(tài)技術(shù)協(xié)會 (JEDEC):
JESD22-A110 (高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 - HAST)
JESD22-A118 (無偏壓高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 - UHAST)
JESD22-A102 (高壓蒸煮試驗 - PCT)
國家標(biāo)準(zhǔn) (GB):
GB/T 2423.40 (環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)
汽車電子領(lǐng)域 (AEC):
AEC-Q100 (基于集成電路應(yīng)力測試的失效機理)
AEC-Q101 (分立半導(dǎo)體器件應(yīng)力測試資質(zhì))
行業(yè)評價方法:
支持如《復(fù)雜組件封裝關(guān)鍵結(jié)構(gòu)壽命評價方法》(T/CIE 143-2022)等標(biāo)準(zhǔn)中提及的加速壽命試驗要求。
應(yīng)用價值
HT-HAST-800 通過精確模擬并加速嚴(yán)苛環(huán)境下的溫濕壓條件,有效激發(fā)潛在缺陷,幫助用戶快速評估產(chǎn)品的長期可靠性、材料穩(wěn)定性及封裝完整性,廣泛應(yīng)用于研發(fā)、品控及認(rèn)證環(huán)節(jié),為產(chǎn)品質(zhì)量提升提供強力保障。
控制HAST高壓試驗箱 非飽和高濕老化
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