HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化試驗機的生產(chǎn)廠家，東莞市皓天試驗設(shè)備有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品

數(shù)據(jù)驅(qū)動決策

HAST測試產(chǎn)生的數(shù)據(jù)為產(chǎn)品改進提供了明確方向。材料性能變化、可靠性驗證結(jié)果和缺陷暴露情況構(gòu)成了完整的測試結(jié)論。

通過加速老化測試，企業(yè)可以驗證產(chǎn)品在嚴苛條件下能否保持性能穩(wěn)定。這些測試的加速因子可達數(shù)百倍，相當于模擬了數(shù)年甚至數(shù)十年的實際使用情況。

對于光伏組件，測試后會重點關(guān)注功率衰減率。行業(yè)標準通常要求功率衰減不超過一定比例，如85℃、85%相對濕度條件下2000小時測試后衰減率≤2%。

這些數(shù)據(jù)不僅用于判斷產(chǎn)品是否合格，更重要的是指導材料選型和工藝優(yōu)化。當測試暴露封裝工藝缺陷時，企業(yè)可以有針對性地改進生產(chǎn)流程。

基于測試數(shù)據(jù)建立的數(shù)學模型還能預(yù)測產(chǎn)品壽命。一項研究發(fā)現(xiàn)，白色LED器件在特定HAST條件下的L70壽命估計可達16926.9小時。

在121℃、85%濕度的HAST試驗箱中，光伏組件的EVA膠膜正在經(jīng)歷相當于戶外數(shù)年的濕熱老化；而在隔壁試驗箱里，LED封裝材料的分層現(xiàn)象已經(jīng)顯現(xiàn)——這些未來數(shù)年才可能發(fā)生的變化，在短短幾天內(nèi)被精準預(yù)測。

隨著越來越多的光電企業(yè)采用這一高效測試方法，產(chǎn)品的長期可靠性不再是一個需要漫長等待的謎題。當試驗箱門打開，取出那些經(jīng)歷了“時間壓縮"考驗的樣品時，制造商手中握著的不僅是測試報告，更是產(chǎn)品在未來十年復雜環(huán)境中穩(wěn)定運行的可信承諾。

控制HAST高壓試驗箱 非飽和高濕老化的生產(chǎn)廠家，東莞市皓天試驗設(shè)備有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

核心技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：+105℃ ~ +155℃（可選）

常用測試溫度：110℃, 130℃, 145℃

濕度范圍：50% ~ 95% RH（非飽和，可調(diào)）

*部分型號支持65%-100%RH，可設(shè)定飽和模式*

壓力范圍：0.02 MPa ~ 0.6 MPa（表壓）

*約合0.2至6kg/cm2，滿足不同標準要求*

控制精度：溫度: ±0.5℃; 濕度: ±2.5% ~ ±3% RH

確保測試條件的嚴苛穩(wěn)定性和出色復現(xiàn)性

控制模式：支持干濕球控制、非飽和蒸汽、飽和蒸汽三種工作模式，適應(yīng)多樣化的測試方案需求。

遵循的核心標準
我們的設(shè)備設(shè)計與制造嚴格遵循國際及國內(nèi)主流可靠性測試標準，確保您的測試數(shù)據(jù)在地球范圍內(nèi)獲得廣泛認可：

國際電工委員會 (IEC)：

IEC 60068-2-66 (試驗Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)

IEC 60749 (半導體器件機械和氣候試驗方法)

固態(tài)技術(shù)協(xié)會 (JEDEC)：

JESD22-A110 (高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 - HAST)

JESD22-A118 (無偏壓高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 - UHAST)

JESD22-A102 (高壓蒸煮試驗 - PCT)

國家標準 (GB)：

GB/T 2423.40 (環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)

汽車電子領(lǐng)域 (AEC)：

AEC-Q100 (基于集成電路應(yīng)力測試的失效機理)

AEC-Q101 (分立半導體器件應(yīng)力測試資質(zhì))

HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化試驗機 

產(chǎn)品核心亮點

精準的控制能力：采用非飽和蒸汽控制技術(shù)，實現(xiàn)對溫度、濕度、壓力的高精度獨立控制與實時監(jiān)控，確保測試條件嚴格符合標準要求，測試結(jié)果具備很高的復現(xiàn)性與可比性。

高應(yīng)力加速測試效率：在遠高于常規(guī)恒溫恒濕試驗（如85℃/85% RH）的應(yīng)力條件下運行，能快速激發(fā)潛在缺陷，顯著縮短產(chǎn)品可靠性驗證周期，助力企業(yè)搶占市場先機。

安全與可靠性設(shè)計：配備多重安全防護（超壓、超溫、漏電、缺水等自動保護），關(guān)鍵部件采用耐腐蝕材料與強化結(jié)構(gòu)，確保設(shè)備在長期高應(yīng)力測試下的穩(wěn)定運行與操作安全。

廣泛的行業(yè)標準兼容性：設(shè)備設(shè)計嚴格遵循半導體行業(yè)主流可靠性測試標準，確保測試數(shù)據(jù)在國際供應(yīng)鏈及客戶群中獲得廣泛認可與信任。

靈活的多模式測試：支持非飽和（常用）、飽和及干濕球等多種控制模式，一機多用，可滿足從標準HAST到無偏壓HAST（UHAST）乃至高壓蒸煮（PCT）等不同測試協(xié)議的需求。

圖片展示：